影响铁铝两用涂层测厚仪测量精度的因素

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常见的铁铝两用涂层测厚仪https://www.linshangtech.cn/tech/tech1694.html以磁性法和涡流测厚法两种原理为主。涂层测厚仪的测量精度，一直是用户比较关心的问题。但涂层测厚仪的测量精度会受到多方面因素的影响，除了技术本身以外，还会受到人为因素、自然因素等方面的影响。那影响涂层测厚仪测量精度的因素有哪些呢？
1.曲率
被测材料的曲率对测量是有一定的影响的。这种影响主要是随着曲率半径的减少而明显的增大。因此如果一个被测材料有弯曲面，在弯曲面测量材料的数据是不可靠的。因此我们在测量涂层厚度时尽量选择平整的表面来作为测量点。
2.试件的变形
我们所说的表面涂层测厚仪测量的材料都是干膜的涂层厚度，对于湿膜是不适合用涂层测厚仪来测量的。因为变形的膜厚会影响仪器的测量数据。所以对于不同类型的膜厚我们要选择合适的涂层测厚仪。
3.边缘效应
涂层测厚仪对试件表面的形状会陡变敏感，所以涂层测厚仪在靠近被测材料的边缘或者内转角的测量数据是不可靠的。我们在进行涂层厚度测量时要尽可能的避免边边角角。
4.基体金属电性质
金属作为好的导体一般都具有导电性，而基体金属的导电率则会影响涂层测厚仪的测量精度。并且金属基体的导电率与材料的成分以及热处理方法有关，可以使用与试件基体金属具有相同的性质的标准片对仪器进行校准。
5.基体金属厚度
每一种仪器都会有一个基体金属基体厚度的临界值，薄可以测量多厚的基体材料。只要大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。
6.表面粗糙度
金属基体表面膜厚的粗糙程度会对测量数据有一定的影响。粗糙程度越大对测量数据的影响程度就越大。粗糙的程度会引起系统误差和偶然误差。在同一表面的不同位置增加测量次数可以减小这种误差。如果金属基体粗糙可以在为涂覆的粗糙度类似的金属试件上取几个点校对仪器的零点。