综合测试仪工厂细谈各种测量问题的解决之道

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　　对于IMD测量，使用信号合路器将两个信号合并，然后送到被测放大器（AUT）的输入端。AUT的非线性会引起与被放大的输入信号一道出现的互调分量。在通信系统中，这些多余的分量将进入工作频带且不能通过滤波去除。实践中，只测三阶分量，综合测试仪工厂告诉你因为它们是造成系统性能下降的重要因素。


　　虽然VNA只需一个射频源就可以测量元件的S参数、压缩和谐波，但增加第二内部信号源则可以对更为复杂的非线性特性，如IMD，进行测量，特别是当这两个源与网络仪内部的信号合路器配合使用时尤其如此。

　　两条居中迹线显示激励信号，下方两条迹线显示IMD分量。上方的迹线则是利用了PNA-X特别有优势的公式编辑特征计算并显示的三阶截获点（IP3）。在扫描状态下进行IMD测试的一个非常有用的改变是对功率电平而不是对频率进行扫描，这有助于研发工程师们建立晶体管和放大器非线性行为模型。在图5显示的测量结果中，您可以看到基频信号以及三阶、五阶和七阶互调分量的幅度和相位随输入功率的变化而变化的情况。东莞手机综合测试仪

　　另一种使用双信号源技术、在建立晶体管和放大器非线性行为模型时会用到的参数是“热态S参数”（准确地说是“放大器工作状态下的S参数-译者注）”，这种测试方法用来表征在某一给定频率下，当存在一个比较大的偏离于S参数测试信号的另外一个输入信号，并且被测放大器的输出因为这个大信号的存在而产生压缩时，放大器小信号S参数的特性。在进行热态S参数测试时，一定要十分小心，不要让被测放大器输出的“热信号”超出了矢量网络分析仪测试接收机的损坏电平。


　　与其它方法相比，使用VNA进行以上测量有三个优点。首先，只用一台测试仪器，只进行一次连接便能对全部参数进行测量：S参数、增益压缩、输出谐波、IMD等等。其次，与使用频谱分析仪相比，用功率计对VNA进行校准之后，测量精度更高。后，如果使用一台频谱分析仪和两个独立的信号源进行同样的测试，完成测试需要花几分钟的时间，但使用PNA-X只需0.6秒。仪器现金高价回收

　　相位与驱动的关系是用PNA-X很容易完成的另一种常见的双信号源测试。这个测试参数表征的是当在相邻通道或带外存在大信号时，放大器处理小信号的能力。秋仪科技建议的测试的方法是把不同频率的一个大信号和一个小信号合在一起然后送至被测放大器（AUT），然后在改变大信号的功率时（使用功率扫描），测量小信号的S21相位。